CCC认证对LTE无线网卡的电磁兼容测试有哪些要求

随着全球LTE技术全面发展，LTE无线网卡崭露头角，并凭借更加优秀的通信速度与质量逐渐取代3G无线网卡的地位。但是也存在着大量LTE无线网卡充斥着市场，产品质量良莠不齐的现象。CCC认证是中国政府为保护消费者人身安全和国家安全、加强产品质量管理、依照法律法规实施的一种产品合格评定制度，其规定LTE无线网卡必须通过CCC认证才能进入市场。LTE无线网卡的CCC认证包括安全测试与电磁兼容测试两部分，以下对电磁兼容的要求作出简要的说明。

LTE无线网卡的电磁兼容测试依据的标准为YD/T 2583.14-2013《蜂窝式移动通信设备电磁兼容性要求和测量方法第14部分：LTE用户设备及其辅助设备》，该标准中规定LTE无线网卡不仅需要进行电磁骚扰测试，还需要进行抗扰度测试。其中，电磁骚扰测试包括辐射杂散骚扰测试和辐射连续骚扰测试，抗扰度测试包括静电放电抗扰度测试及辐射骚扰抗扰度测试。

辐射连续骚扰测试

辐射连续骚扰测试建议在半电波暗室中进行，半电波暗室的场地性能指标必须符合GB/T 6113.104中的要求。当测试频率为1GHz以下时，测试时所使用的准峰值测量接收机应符合GB/T 6113.101-2008第四章的要求。峰值测量接收机应符合GB/T 6113.101-2008第五章的要求，并具有GB/T 6113.101-2008第四章所要求的6dB带宽。测试天线应符合GB/ T6113.104中的要求，当测试频率为1GHz以上时，测量接收机应符合CIPSR16-1-1中的要求。辐射连续骚扰限值见表1、表2。

在测试前，受试设备需与其辅助设备相连接，如笔记本电脑。将受试设备与辅助设备放置在半电波暗室转台中心的非导电材料测试台上，测试台高度应为80cm。受试设备应于LTE模拟基站建立数据通信连接。测试时，在每一个测试频率，应在半电波暗室接地平板上方1m至4m的范围内调整天线的高度，应在0°至360°之间旋转转台，以寻找该频率最大的场强读数。在测量过程中，为了寻找最大的场强读数，应将天线依次改变为水平或垂直极化方式对受试设备分别进行测试。在30MHz至1GHz频率范围内，用带有准峰值检波器的测量接收机进行测量。为了节省测试时间，提高测试效率，可以用峰值测量代替准峰值测量。有争议时，以准峰值测量接收机的测量结果为准。测试天线与受试设备之间的距离应为10m。在1GHz至6GHz频率范围内，应使用峰值检波器与平均值检波器同时对受试设备进行测量。测试天线与受试设备之间的距离应为3m。

表1辐射连续骚扰限值(30MHz～1GHz，10米测量距离)

表2辐射连续骚扰限值(1GHz～6GHz，3米测量距离)

静电放电抗扰度测试

静电放电抗扰度测试建议在实验室中进行。静电放电发生器必须满足GB/T 17626.2的要求，并且应按照GB/T 17626.2的要求对静电放电发生器的特性进行校验。实验室的地面应设置接地参考平面，它应是一种最小厚度为0.25mm的铜或铝的金属薄板，其他金属材料虽可使用但它们至少有0.65mm的厚度。接地参考平面的最小尺寸为1m2，实际的尺寸取决于受试设备的尺寸，而且每边至少应伸出受试设备或耦合板之外0.5m，并将它与保护接地系统相连接。在接地参考平面上放置一张高度为0.8m的木桌。放在桌面上的水平耦合板(HCP)面积为1.6m×0.8m，并用一张厚为0.5mm的绝缘衬垫将受试设备和辅助设备与耦合板隔离，水平耦合板至少比受试设备的每一边大出0.1m，受试设备与实验室墙壁和其他金属性结构之间的最小距离为1m。在绝缘衬垫上放置垂直耦合板(VCP)，将水平耦合板与垂直耦合板通过两端都接有470kΩ的电缆连接到参考平面上。静电放电抗扰度试验等级见表3。

表3 静电放电抗扰度试验等级

在测试前，受试设备需与其辅助设备相连接，如笔记本电脑，将受试设备与辅助设备放置在木桌的绝缘衬垫上。受试设备需在业务模式和空闲模式应分别进行测试。在测试时，对于直接放电，静电放电发生器应保持与实施放电的表面垂直，以改善试验结果的可重复性。除非在通用标准、产品标准或产品类标准中有其他规定，静电放电只施加在正常使用时人员可接触到的受试设备上的点和面。对于表面涂漆的情况，如设备制造厂家未说明涂膜为绝缘层，则发生器的电极头应穿入漆膜，以便与导电层接触。如厂家指明涂漆是绝缘层，则应只进行空气放电。这类表面不应进行接触放电试验。间接放电分为对水平耦合板放电和对垂直耦合板放电。

对水平耦合板放电应在水平方向对其边缘施加。在距受试设备中心点前面的0.1m处水平耦合板边缘，至少施加十次的单次放电(以最敏感的极性)。放电时，放电电极的长轴应处在水平耦合板的平面，并与其前面的边缘垂直，放电电极应接触水平耦合板的边缘。对垂直耦合板放电时，应对其一个垂直边的中心至少施加十次的单次放电(以最敏感的极性)，应将尺寸为0.5m×0.5m的垂直耦合板平行于受试设备放置且与其保持0.1m的距离。放电应施加在耦合板上，通过调整耦合板的位置，使受试设备四面不同的位置都收到放电试验。

当受试设备符合性能判据时，则认为该受试设备通过静电放电抗扰度测试。性能判据如下：

在试验之前应建立好通信链路。在试验后，用户设备在通信过程中不能出现用户可以察觉的通信质量的降低。如果整个试验由一系列小的试验组成，试验结束后，受试设备应没有用户控制功能丧失和存储数据的丢失，并且通信连接能够保持。除了在业务模式下确认上述性能，还应进行空闲模式下的试验，试验过程中发信机不应出现误操作。

辐射骚扰抗扰度测试

辐射骚扰抗扰度测试建议在电波暗室中进行，电波暗室应按照GB/T 17626.3的要求进行校准，且必须满足GB/T 17626.3中场均匀性的规定。辐射骚扰抗扰度试验等级见表4。

表4 辐射骚扰抗扰度试验等级

在测试前，受试设备需与其辅助设备相连接，如笔记本电脑。将受试设备与辅助设备放置在高度为0.8m的非导电材料测试台上，受试设备在业务模式和空闲模式应分别进行测试。在测试时，频率范围为80MHz至2,700MHz，使用校准过程中所确定的功率电平，并用1kHz的正弦波对信号进行80%的幅度调制，测试等级应为3V/m。80MHz至1,000MHz频段内频率扫描步长不大于前一频率的1%，1,000MHz至2,700MHz频段内频率扫描步长不大于前一频率的0.5%。发射天线需在垂直极化状态和水平极化状态分别进行试验。

当受试设备符合性能判据时，则认为该受试设备通过辐射骚扰抗扰度测试。性能判据如下：在测试之前应建立好通信链路，在试验过程中应保持通信连接。在数据传输模式，吞吐量应达到参考测试信道最大吞吐量的95%。试验后，受试设备应能够正常工作，没有用户控制功能的丧失和存储数据的丢失，且保持通信连接。除了在业务模式下确认上述性能，还应进行空闲模式下的试验，试验过程中发信机不应出现误操作。

辐射杂散骚扰测试

辐射杂散骚扰测试应在全电波暗室中进行，全电波暗室的场地性能指标必须符合GB/T 6113.104中的要求。测试时所使用的测量接收机应具有有效值检波方式。辐射杂散骚扰限值见表5。

在测试前，受试设备LTE无线网卡(下文中简称受试设备)需与其辅助设备相连接，如笔记本电脑。将受试设备与辅助设备放置在非导电材料测试台上，受试设备与接收天线的距离不小于3m，受试设备需在业务模式和空闲模式应分别进行测试。在测试时，先将接收天线高度调整为受试设备物理中心高度，然后在每一个测试频率，转台0°至360°之间进行旋转，以寻找该频率最大的有效功率值。为了寻找最大的有效功率值，应将天线依次改变为水平或垂直极化方式对受试设备分别进行测试，应使用有效值检波器对受试设备进行测试。

表5 辐射杂散骚扰限值